СТ РК ISO 16809-2019 «Контроль неразрушающий. Ультразвуковой контроль толщины»
СТ РК ISO 16809-2019
Контроль неразрушающий
Ультразвуковой контроль толщины
(ISO 16809:2017 Non-destructive testing - Ultrasonic thickness measurement, IDT)
6. Применение метода ультразвукового контроля толщины
8. Факторы, влияющие на точность измерений
Приложение А (информационное) Коррозия в резервуарах и трубопроводах
Приложение В (информационное) Настройка приборов
Приложение С (информационное) Параметры, влияющие на точность
Приложение D (информационное) Выбор метода измерения
Настоящий стандарт устанавливает принципы ультразвукового измерения толщины металлических и неметаллических материалов, основанный на измерении времени прохождения ультразвуковых импульсов.
Для применения настоящего стандарта необходимы следующие ссылочные нормативные документы. Для недатированных ссылок применяется последнее издание ссылочного документа (включая все изменения).
ISO 5577:2017 Контроль неразрушающий. Ультразвуковой контроль. Словарь (Nondestructive testing - Ultrasonic inspection - Vocabulary).
В настоящем стандарте используются термины с соответствующими определениями по ISO 5577.
Примечание - ISO и IEC поддерживают терминологические базы данных для использования в стандартизации по следующим адресам:
- Платформа ISO для просмотра файлов в интернете: доступна на http://www.iso.org/obp
- IEC Electropedia: доступна на http: //www. electropedia.org/
Толщину детали или конструкции определяют путем измерения времени, необходимого для того, чтобы ультразвуковой импульс малой длительности, излучаемый преобразователем, прошел через толщину материала один, два или несколько раз.
Толщина вычисляется путем умножения известной скорости звука в материале объекта контроля на время прохождения и деления на количество прохождений импульса через всю измеряемую толщину стенки объекта контроля.
Данный принцип можно осуществить путем применения одного из следующих режимов, представленных также на рисунке 1.
а) Режим 1: измерение времени прохождения от начального импульса возбуждения до первого отраженного сигнала за вычетом корректировки начальной точки (корректировки нуля), обусловленной толщиной протектора преобразователя и толщиной слоя контактной среды (режим однократного эхо-сигнала).
б) Режим 2: измерение времени прохождения от конца линии задержки до первого донного эхо-сигнала (режим однократного эхо-сигнала с учетом линии задержки).
в) Режим 3: измерение времени прохождения между последовательными донными эхо-сигналами (режим многократного отражения).
г) Режим 4: измерение времени пробега импульса, проходящего от излучателя до приемника в контакте с донной поверхностью (теневой метод).
Демо – версия документа